专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种磁控溅射靶屏蔽装置-CN201520298266.9有效
  • 郁哲;孟彬;孔明;吴健;张益欣;周海铭;梁小龙 - 昆明理工大学
  • 2015-05-11 - 2015-09-30 - C23C14/35
  • 本实用新型涉及一种磁控溅射屏蔽装置,属于高真空磁控溅射镀膜领域。本实用新型所述磁控溅射靶屏蔽罩包括磁控溅射靶屏蔽罩、磁控溅射靶屏蔽垫圈,磁控溅射靶屏蔽罩安装在铜冷却板的侧壁上,磁控溅射靶屏蔽垫圈放置在磁控溅射靶屏蔽罩上,开口对准沉积基片;磁控溅射靶与磁控溅射靶屏蔽罩、磁控溅射靶与磁控溅射靶屏蔽垫圈之间上下的距离均为2-3mm,磁控溅射靶屏蔽垫圈的外孔直径与磁控溅射靶屏蔽罩开孔大小一致,内直径为25~50mm。
  • 一种磁控溅射屏蔽装置
  • [实用新型]一种可监控薄膜晶粒生长的磁控溅射装置-CN202320023923.3有效
  • 张晓军;朱新华;胡小波 - 深圳市矩阵多元科技有限公司
  • 2023-01-03 - 2023-06-09 - C23C14/35
  • 本实用新型公开了一种可监控薄膜晶粒生长的磁控溅射装置,包括:壳体,具有内腔;基板组件,设于内腔且与壳体顶部连接;第一磁控溅射组件和第二磁控溅射组件,设于内腔且与壳体底部连接,平行于基板组件设置,且第一磁控溅射组件和第二磁控溅射组件位于同一水平线上,第一磁控溅射组件和第二磁控溅射组件的磁力大小相同,磁极相反;监控组件,设于内腔且与壳体侧壁连接,位于第一磁控溅射组件/第二磁控溅射组件和基板组件之间,且位于第一磁控溅射组件和第二磁控溅射组件的中心且垂直于基板组件的平面上本实用新型实施例的可监控薄膜晶粒生长的磁控溅射装置,能够在磁控溅射过程中监控薄膜晶粒生长状态,且不会改变电子轨迹,分析效率高。
  • 一种监控薄膜晶粒生长磁控溅射装置
  • [实用新型]磁控溅射镀膜工艺室-CN202222989956.1有效
  • 李茂;王豪奇;李建华 - 浙江生波智能装备有限公司
  • 2022-11-07 - 2023-03-28 - C23C14/35
  • 本实用新型实施例公开了一种磁控溅射镀膜工艺室,其磁控溅射源包括第一磁控溅射源、第二磁控溅射源、第三磁控溅射源和第四磁控溅射源,其中,第一磁控溅射源和第二磁控溅射源位于磁控溅射镀膜工艺室左侧,用于在柔性PI基材背面的Cu过渡层上形成Cu功能层;第三磁控溅射源和第四磁控溅射源位于磁控溅射镀膜工艺室右侧,用于在柔性PI基材正面的Cu过渡层上形成Cu功能层。本实用新型实施例,在柔性PI基材的正反面各配置两个磁控溅射源,可双面同时一次完成镀膜,减少往复卷绕导致的良率以及效率的损失。同时,为能够制备出表面附着力符合要求的真空镀膜设备提供良好的保障。
  • 磁控溅射镀膜工艺
  • [实用新型]磁控溅射靶材-CN201220226070.5有效
  • 姚力军;相原俊夫;大岩一彦;潘杰;王学泽;钟伟华 - 宁波江丰电子材料有限公司
  • 2012-05-18 - 2012-12-05 - C23C14/35
  • 一种磁控溅射靶材,所述磁控溅射靶材具有溅射面,与现有平面结构型溅射面不同的是,所述溅射面具有磁场强度设计轮廓,即磁控溅射靶材在不同位置的厚度是按照磁场的强弱来设计的,磁控溅射靶材在磁场强的位置的厚度较大、在磁场弱的位置的厚度较小,使得溅射后期磁控溅射靶材的溅射面更加平整,从而使得溅射参数保持稳定,增加了磁控溅射靶材的寿命;进一步地,磁控溅射靶材的溅射面向磁控溅射靶材的中心凹陷,以使溅射时靶材原子能够充分向中心聚集,减少了靶材原子向被镀膜工件外的区域溅射,提高了磁控溅射靶材的使用效率,从而进一步增加了磁控溅射靶材的寿命。
  • 磁控溅射
  • [实用新型]一种磁控溅射靶罩-CN201320172332.9有效
  • 孟彬;孔明;刘肖肖;徐定能 - 昆明理工大学
  • 2013-04-09 - 2013-09-11 - C23C14/35
  • 本实用新型涉及一种磁控溅射靶罩,属于高真空磁控溅射镀膜领域。在磁控溅射靶上安装有可调节高度的磁控溅射靶罩,磁控溅射靶罩的上端开口,开口端对准沉积基片。磁控溅射靶和沉积基片放置在溅射室内,溅射室上有可以观察溅射情况的观察窗。磁控溅射靶罩通过螺纹与磁控溅射靶连接,磁控溅射靶罩的上端与沉积基片始终保持1~2mm的距离,以便观察溅射时能否起辉。该靶材罩能够将靶材和基片之间的空间区域封闭起来,并有效阻断沉积粒子向溅射室内壁和观察窗的沉积,降低溅射室和观察窗的污染。
  • 一种磁控溅射
  • [发明专利]一种低残余应力的铜薄膜制备方法-CN201210384082.5无效
  • 唐武;王学慧 - 电子科技大学
  • 2012-10-11 - 2013-01-02 - C23C14/35
  • 该方法应用在磁控溅射镀膜设备上,采用射频进行磁控溅射以制备铜薄膜,所述磁控溅射镀膜设备具有磁控溅射腔室,在所述磁控溅射腔室中设有磁控溅射靶;具体包括以下步骤:a.对基片进行预处理;b.将经过预处理后的基片放置在磁控溅射腔室内;c.对磁控溅射腔室进行抽真空;d.向磁控溅射腔室内通入高纯氩气;e.调节射频溅射功率和气压,对磁控溅射靶进行溅射,在基片上形成铜薄膜;f.在磁控溅射腔室冷却后,取出铜薄膜样品,进行残余应力测试。
  • 一种残余应力薄膜制备方法
  • [发明专利]一种红外屏蔽功能薄膜的制备方法-CN201310549471.3无效
  • 陈路玉 - 中山市创科科研技术服务有限公司
  • 2013-11-07 - 2014-03-19 - C23C14/35
  • 本发明公开了一种红外屏蔽功能薄膜的制备方法,包括:交流溅射硅铝旋转靶,在玻璃基板上磁控溅射Si3N4层;交流溅射掺铝氧化锌陶瓷,在Si3N4层上磁控溅射AZO层;直流溅射银平面靶,在AZO层上磁控溅射Ag层;交流溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在Ag层上磁控溅射AZO层;直流溅射银平面靶,在AZO层上磁控溅射Ag层;交流溅射掺铝氧化锌陶瓷靶,在Ag层上磁控溅射AZO层;直流溅射银平面靶,在AZO层上磁控溅射Ag层;交流溅射掺铝氧化锌陶瓷旋转靶,在Ag层上磁控溅射AZO层;交流溅射硅铝旋转靶,在AZO层上磁控溅射Si3N4层。
  • 一种红外屏蔽功能薄膜制备方法
  • [发明专利]一种磁控溅射设备-CN201410184891.0在审
  • 宋太伟;高伟波 - 上海建冶环保科技股份有限公司
  • 2014-05-05 - 2015-11-25 - C23C14/35
  • 本发明提供了一种磁控溅射设备,包括磁控溅射室,其左、右侧壁设置一个进气口和抽气口;溅射靶、靶材,位于磁控溅射室内下部;磁铁,位于磁控溅射室内溅射靶底部;可移动基板台,位于磁控溅射室内上部,在其与溅射靶的相对面上设置有基片;保护罩,位于磁控溅射室内,放置在靶材和可移动基板台之间;高频电源,位于磁控溅射室外,其正负极分别与基板台和溅射靶连接;通电线圈,垂直放置在基板台和溅射靶之间,用于产生变化的磁场。本发明的实施可以增加了电子与沉积粒子的碰撞机率,达到控制粒子大小和沉积速度的目的,实现纳米级薄膜的磁控溅射沉积。
  • 一种磁控溅射设备

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